SGG-1係列相位法光速測量儀(yi) 適用於(yu) 科研院所、高等院校物理實驗室的光速測量。實驗裝置內(nei) 調製被測信號的光強，測量光強調製波傳(chuan) 播距離變化所引起的相應相位變化，Z終測定光速，並可以擴展測量有機玻璃、人造水晶、無水乙醇等介質的折射率。

主要參數： 電光晶體(ti) ：LiNbO3（铌酸鋰）；光源是半導體(ti) 激光器；波長650nm；功率≥2.5mW；導軌1000mm；偏振片φ20mm；1/4波片；晶體(ti) 偏置電壓：0~400V（數碼顯示），交流內(nei) 調製信號電壓0-40VPP；頻率1KHZ（連續可調）

1、觀察聲光調製的衍射現象（布拉格衍射）；2、測試聲光晶體(ti) 的調製特性；3、調製晶體(ti) ：鉬酸鉛晶體(ti) ；4、調製方式：橫向調製；5、調製電壓：0-40VPP；6、調製波形：1KHZ正弦波（或其他波形，例如鋸齒波）；7、調製帶寬：20MHZ；8、電源：220±10%，50HZ；9、激光波長：650~680nm；

儀(yi) 器介紹 本實驗包括激光散斑照相和電子散斑幹涉兩(liang) 部分。利用二次曝光散斑圖進行物體(ti) 表麵麵內(nei) 位移場的測試，以及由此引伸出來的應變、應力場測試、距離、速度測試、物體(ti) 內(nei) 在缺陷和振動分析是散斑效應Z有前途的應用領域。利用電子散斑幹涉對物體(ti) 離麵位移進行測量，同時對傳(chuan) 統的幹版曝光和計算機圖形處理兩(liang) 種方法作比較，以加深對散斑幹涉的理解。

儀(yi) 器介紹 利用二次曝光散斑圖進行物體(ti) 表麵麵內(nei) 位移場的測試，以及由此引伸出來的應變，距離，速度測試，物體(ti) 內(nei) 在缺陷和振動分析是散斑效應Z有前途的應用領域。 實驗內(nei) 容 1、拍攝自由空間散斑和成像散斑圖，了解激光散斑現象及其特點 2、掌握二次曝光散斑圖的逐點分析和全場分析測物體(ti) 麵內(nei) 位移的方法