電容電壓特性測試儀

作為(wei) 組成半導體(ti) 器件的基本結構的PN結具有電容效應（勢壘電容）。加正向偏壓時，PN結勢壘區變窄，勢壘電容變大；加反向偏壓時，PN結勢壘區變寬，勢壘電容變小。

是測試頻率為(wei) 1MHz的智能化數字的電容測試儀(yi) 器，於(yu) 測試半導體(ti) 器件PN結的勢壘電容在不同偏壓下的電容量，也可測試其它電容。

麵板上的發光二極管指示儀(yi) 器的工作狀態，用數碼管組成的顯示板，將被測元件的數值，小數點清晰地顯示出來。儀(yi) 器有較高的分辨率，電容量是四位讀數，可分辮到0.01pF，偏置電壓分辨力為(wei) 0.1V，漏電流分辨力為(wei) 0.01uA。

儀(yi) 器配有CV-2000型測量座，接插元件靈活，方便可靠。

技術指標 ：

測試信號頻率 1.000MHz±0.01%

測試信號電壓小於(yu) 或等於(yu) 100mVrms

電容測量範圍 1.00pF～1000pF

工作誤差±3.0%±2字

直流偏壓 zui大100V

供電電源交流電壓：220V±5%；
 頻率： 50Hz±5%；
 消耗功率：不大於(yu) 40W；

工作環境溫度：0—40℃；
 濕度：20%~90%RH 40℃；