遊離二氧化矽檢測儀

工作環境中的粉塵種類較多,主要有矽塵、煤塵、鍋爐塵、石棉塵、水泥塵等。當粉塵中的遊離二氧化矽含量較高時,對接觸人員危害較大,因此有必要加強對粉塵中遊離二氧化矽的測定。以往檢測粉塵中的遊離二氧化矽含量,均采用GB 5748 - 1985規定的“焦磷酸重量法”[ 1 ] ,但該方法操作繁瑣、檢測周期長、準確性差,難以滿足批量檢測的要求。

遊離二氧化矽檢測儀(yi) 主要特點：

在國內(nei) *采用計算機直接比例記錄原理

采用一塊高能量雙閃耀光柵覆蓋整個(ge) 工作波段

采用高性能計算機進行儀(yi) 器控製和數據處理

WINDWOS中文操作軟件

采用USB接口

采用國產(chan) TGS為(wei) 接收器，價(jia) 格低廉，性能可靠。

遊離二氧化矽測定儀(yi) 儀(yi) 器主要數據處理功能：

光譜背景基線記憶 光譜背景基線校正 光譜數據累加運算 %T與(yu) ABS轉換 

光譜數據平滑運算 光譜基線傾(qing) 斜校正 光譜文件管理 光譜峰值檢出

光譜數據微分運算 光譜數據四則運算 光譜刻度擴展 光譜吸收擴展

遊離二氧化矽檢測儀(yi) 性能指標：

波數範圍：4000-400cm^-1

波數精度：≤±4cm^-1（4000-2000cm^-1）≤±2 cm^-1（2000-400cm^-1）

分辨能力：1.5cm^-1(1000cm^-1附近)

透過率精度：≤±0.2%T(不含噪音電平)

Io線平直度：≤±2%T

雜散光：≤0.5%T(4000-650cm^-1) ≤1%T(650-400cm^-1)

測試模式：三種（透過率、吸光度、單光束）

掃描速度：五檔（很快、快、正常、慢、很慢）

狹縫程序：五檔（很寬、寬、正常、窄、很窄）

響應：四檔（很快、快、正常、慢）

工作方式：三種：（連續掃描、重複掃描、定波長掃描）

橫、縱坐標擴展：任意

配套附件：粉末壓片機、壓片模具、瑪瑙研缽器、紅外烘烤箱（或電熱幹燥箱）、溴化鉀粉末、*電子天平（0.01mg）、*高溫電爐、*α-SiO2標準品：純度在99%以上